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更新時(shí)間:2026-07-22
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隨著材料科學(xué)研究的持續(xù)深入,半導(dǎo)體薄膜、納米材料、復(fù)合材料、功能涂層等新興領(lǐng)域?qū)?X 射線衍射表征提出了更多元的需求。除了基礎(chǔ)的物相定性定量分析,微區(qū)衍射、薄膜高精度表征、小角散射、高通量樣品篩選等測(cè)試需求正快速增長(zhǎng)。在此背景下,多晶 X 射線衍射儀正朝著模塊化、多功能、高分辨率的方向演進(jìn)。通過(guò)可靈活更換的光學(xué)組件、探測(cè)器與樣品臺(tái),單臺(tái)設(shè)備即可承載從基礎(chǔ)質(zhì)控到前沿研究的全流程表征工作,既能降低實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備采購(gòu)成本,也能提升研究工作的連貫性,成為科研院所與企業(yè)研發(fā)中心的重要選型方向。

多晶 X 射線衍射儀利用 X 射線與晶體的衍射效應(yīng)實(shí)現(xiàn)材料的無(wú)損結(jié)構(gòu)表征。X 射線入射至多晶樣品后,不同間距的晶面會(huì)產(chǎn)生符合布拉格定律的衍射信號(hào),形成特征衍射圖譜。通過(guò)對(duì)圖譜的深度解析,不僅可以完成物相定性與定量分析,還可獲取晶體取向、殘余應(yīng)力、薄膜厚度、界面結(jié)構(gòu)、納米粒度、短程有序結(jié)構(gòu)等多維度信息,是材料科學(xué)研究中不可或缺的表征手段。
束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。
束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供完善的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天、國(guó)家機(jī)關(guān)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及工業(yè)企業(yè),產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。
主營(yíng)儀器設(shè)備:
--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀(ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國(guó)布魯克Bruker 官方授權(quán)代理商
--PDF衍射數(shù)據(jù)庫(kù)、JADE軟件--國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商
--晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等 --德國(guó)Freiberg Instruments授權(quán)代理商
對(duì)于高校科研院所、新材料企業(yè)研發(fā)中心,以及需要開(kāi)展薄膜材料、微區(qū)結(jié)構(gòu)、原位表征等深度研究工作的用戶來(lái)說(shuō),D8 DISCOVER 是適配性較強(qiáng)的多功能解決方案。它無(wú)需多臺(tái)設(shè)備即可覆蓋從基礎(chǔ)質(zhì)控到前沿研究的多種表征需求,模塊化的設(shè)計(jì)可隨研究方向的拓展逐步升級(jí)配置,能夠長(zhǎng)期支撐材料研究工作的開(kāi)展。
Q1:D8 DISCOVER 可以開(kāi)展哪些類型的薄膜分析工作?A:可開(kāi)展掠入射衍射、X 射線反射率測(cè)量、高分辨率 X 射線衍射、倒易空間掃描等測(cè)試,實(shí)現(xiàn)薄膜的物相鑒定、厚度測(cè)定、應(yīng)變弛豫分析、界面結(jié)構(gòu)表征、成分分析等多項(xiàng)研究。
Q2:設(shè)備支持多大尺寸的樣品測(cè)試?A:搭配 UMC 樣品臺(tái)時(shí),可對(duì)最大 300mm 的樣品進(jìn)行區(qū)域掃描,樣品安裝重量可支持不超過(guò) 5kg,能夠適配多數(shù)工業(yè)部件與大尺寸基底樣品的測(cè)試需求。
Q3:微焦源相比常規(guī)光源有什么特點(diǎn)?A:IµS 微焦源搭配 MONTEL 光學(xué)器件可輸出小尺寸光束,亮度較高且背景較低,適合小樣品、微區(qū)的衍射測(cè)試;同時(shí)設(shè)備采用低功耗、無(wú)耗水的設(shè)計(jì),運(yùn)行成本相對(duì)更低。
Q4:切換不同測(cè)試方法時(shí)需要手動(dòng)調(diào)整探測(cè)器嗎?A:EIGER2 R 探測(cè)器支持免工具的方向切換與位置調(diào)節(jié),可通過(guò)軟件控制適配不同測(cè)試的角度范圍與分辨率需求,操作便捷,無(wú)需復(fù)雜的人工調(diào)校。
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